功能安全实战系列09-英飞凌TC3xx LBIST开发详解
本文框架
- 0. 前言
- 1.What?
- 1.1 基本原理
- 1.1.1 检测范围
- 1.1.2 LBIST与锁步核对比
- 1.1.3 控制寄存器
- 1.2 关联Alarm
- 2. How?
- 2.1 LBIST触发？
- 2.1.1 SSW配置自动触发
- 2.1.2 软件手动触发LBIST
- 2.2 实现策略
- 2.3 测试篇
- LBIST对启动时间的影响
- 如何确定当前LBIST是否已使能？
- 如何确定当前LBIST是否已完成？
0. 前言
在本系列笔者将结合工作中对功能安全实战部分的开发经验进一步介绍常用，包括Memory(Flash，Ram)失效检测，程序运行时序时间检测，及功能安全软件相关的功能安全分析，DFA分析方法等进行介绍。从本篇开始将对英飞凌Tricore系列芯片功能安全进行系统介绍，包括SMU，MONBIST，LBIST，MBIST，时钟监控，ECC，MPU，总线监控等，如您对汽车电子底层相关Autosar全模块实战感兴趣，可参读专栏：AutoSar实战进阶系列导读
本篇将对LBIST(Logic Built-In Self-Test，用于检测MCU内部逻辑电路的潜在故障)开发介绍，步骤详细配合开发中的测试情况方便理解。主要框架如下：
