6 质量控制中的常用缩略语和符号(OEE)以及解释
一、常用缩略语和符号以及解释
| Cm | 设备能力指数（machine capability index) |
| Cmk | 关键设备能力指数(critical machine capability index)； 计算公式见2.2 |
| Cp | 工序能力指数(process capability index) |
| Cpk | 关键工序能力指数(critical process capability index)； 计算公式见2.3 |
| USL | 规格上限(upper specification limit) |
| LSL | 规格下限(lower specification limit) |
| OEE | 设备综合效率指标(Overrall equipment effectiveness index) OEE = 可用率 x 设备性能效率 x 质量指数 = 实际合格品数量 / 计划产量 见2.1 |