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MCU 温度采样理论(-ADC Temperature sensor)

  温度传感器可以使用ADC来测量芯片温度。
  为了准确测量运行时的芯片温度,请使用在生产过程中运行的参考测量值,此参考值与其他校准数据一起存放在SFlash中。

一、温度测量流程

在这里插入图片描述

1、ADC校准:关于偏移和增益调整的实例,见9.3。
2、检查CREFH和VREL:参见8.2。
3、设置参考缓冲区模式:设置PASS_CTL寄存器以启用参考缓冲区模式。
4、设置温度传感器寄存器:仅针对CYT2B,将PASS_TEST_CTL寄存器的bit9、bit8、bit6设置为“1”。
5、使用ADC读取带隙参考(VBG):存储VBG的A/D转换结果。
6、使用ADC读取温度传感器输出(VBE):读取VBE的A/D转换结果。要找到温度传感器的合适样本时间。
7、计算芯片内部温度:
a、VBE(温度传感器输出)与温度(T)有二阶依赖关系,可用以下公式描述:VBE = aT2 + bT + c。

  • 方程系数a b c可以使用SFlash中存储的数据()
http://www.xdnf.cn/news/529147.html

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