武汉昊衡科技OLI光纤微裂纹检测仪：高密度光器件的精准守护者

随着AI技术应用越来越广，算力需求激增，光通信系统正加速向小型化、高密度、多通道方向演进。硅光芯片、高速光模块等核心器件内部的光纤通道数量成倍增加，波导结构愈发精细，传统检测手段因分辨率不足、效率低下，难以精准定位微米级损伤或耦合失效点，成为制约产品良率和性能的瓶颈。相比于传统光纤链路测量方法（如功率计、插回损仪、红光笔、光谱仪等），昊衡科技自主研发的OLI光纤微裂纹检测仪可分布式测量光链路中所有位置的回波损耗，实现一键扫描，内部结构反射强度的可视化测量。

OLI的核心技术：光学低相干检测

OLI即Optical Low coherence Interrogator，其基于光学相干检测技术（Optical Coherence Detection），通过白光（宽谱光）的低相干性原理，实现了对光纤链路和光学器件的亚毫米级空间分辨率探测，灵敏度高达-100dB，可精准捕捉微裂纹、断点、耦合异常等缺陷。其技术亮点包括：

1.高精度定位

采样分辨率达1μm，事件点精度达百μm，可清晰呈现光链路中每个事件节点（如连接器端面、芯片波导接口）的回波损耗分布，快速锁定故障位置。

2.分布式测量

OLI区别于传统的功率指标测量，其最大特点即是可在某一长度范围内实现分布式强度信号测量，一键扫描，可查看最长90cm范围内每个位置点的反射信号强度，协助客户判断待测品中各种精细结构端面异常情况，耦合好坏，微弯损耗，微裂纹点等。

3.快速自动化检测

升级后的OLI支持多通道测试，并且添加了精准扫描功能，客户可根据实际需要测量的范围精准设置扫描位置，2cm长度扫描范围仅需1.5秒，适配产线高速测量需求，效率提升超80%。同时，设备还开发了远程数据传输功能，可实时传输测试数据到客户自己的云端数据库，方便出货调用或后期失效查阅。

4.快速自动化检测

可对硅光芯片、高速光模块、光纤连接器、复杂的光路耦合系统等场景进行测量，并可支持FC、LC、SC、MPO、MT、PC或APC等多种接头类型及端面类型测试。

OLI的优势：从失效分析到工艺优化

1. 硅光芯片的“全链路透视”

硅光芯片作为5G、AI算力的核心载体，其内部光波导与外部光纤的耦合质量直接影响信号传输效率。OLI可精准检测耦合面质量、FA内部裂纹、FA带纤裂纹及损伤等缺陷，助力优化设计并提升制造良率。

2. 高速光模块的产线级质控

面对400G/800G光模块的多通道波分复用架构，OLI可快速扫描模块内部光纤链路，定位微损伤或连接异常。单次点击测量，同时出所有通道测量结果，方便数据对比和分析。

3. 光纤连接器的精密检测

随着光模块的速率越来越高、光纤链路的越来越复杂，光纤连接器早已不再只是传统的单模单芯了。AI的火热，使得MPO/MT类光纤连接器出货量激增，相应的光纤FA转MPO/MT类跳线也是订单明显增加。随着器件模块的订单价值越来越高，客户对此类连接头及带纤的质量要求也越来越高。分布式回损检测仪（光纤微裂纹检测仪）的市场将会越来越大。

OLI的应用场景：

1. 研发、制造光连接器或光纤跳线的企业

   在连接器或光纤跳线制造过程中，使用OLI能有效避免一些微小裂纹和细微缺陷，防止长期的产品失效，确保产品质量。

1. 光模块制造企业

   在光模块耦合及组装过后，可使用OLI进行光学链路信号测试，作出货监测，以确保组装过程中没有失效。另外，也可用OLI对来料的带纤跳线进行来料检验，以做批量物料的IQC检验合格测试。

1. 从事波导结构设计、硅光芯片、光学元件或光路系统的研发制造单位

OLI可通过测量内部光学元件（如透镜、芯片、波片等）之间的距离及端面反射强度，判断整个器件或模块的性能好坏，并随时调整工艺结构（如耦合间距、镀膜反射率等）。

总结：

OLI是一款可以有效帮助研发工程师解决设计问题，改进生产以及帮助产线解决自动化测试，提高产线效率的高精度测量设备。随着光通信市场的不断扩大，OLI将持续迭代，以更高精度、更大测量范围应对复杂光器件的检测需求。昊衡科技始终致力为客户提供从研发到量产的全生命周期质量保障，助力客户构建智能化检测体系。